在计算射频链路的级联噪声时,我们会输入每一级的噪声系数以及增益,即可计算出整个射频链路的噪声系数,用于系统评估。但是有同学问我,无源器件的噪声系数就是它的插入损耗吗?为什么呢?
噪声系数是由信噪比定义的,即输入信噪比除以输出信噪比:
F=Si/NiSo/NoF = \frac{S_i/N_i}{S_o/N_o} F=So/NoSi/Ni
作为一个RF工程师,很多时候会需要评估整个系统的噪声系数,而如何通过各个器件的噪声系数而计算出整体的NF值呢?就是使用Friis噪声公式[1]:
F=F1+F2−1Gp1+F3−1Gp1Gp2+...F =F_1+ \frac{F_2-1}{G_{p1}} + \frac{F_3-1}{G_{p1}G_{p2}} + ... F=F1+Gp1F2−1+Gp1Gp2F3−1+...
F为噪声系数,G代表各级增益,只要有各级器件自己的噪声系数和增益,通过上面的公式计算就可以计算出整个射频前端的总噪声系数,需要注意的是公式中的F和G都不是dB单位的,计算出整体的F后,再换算成dB即可,那么问题来了10log还是20log嘞?答:10log。那么问题又来了S参数是10log还是20log?留个小尾巴吧:)
现代的仿真软件都可以帮助我们仿真计算这些参数,比如ADS, AWR, Cadence virtuoso等等都可以,当然这些软件也都价格不菲,对于爱好者和发烧友来说,可以使用网页版的计算器,也可以使用Avago公司做的AppCAD这样的免费的小软件来计算,如图1所示:

无源器件的噪声系数就是其插入损耗,比如一颗SAW滤波器的插入损耗是-1.5dB,那么它的NF就是1.5dB。但是这是为什么呢?这是之前看到的一篇讲这个问题比较透彻的一篇文章:https://www.microwaves101.com/encyclopedias/noise-figure-of-passives,下面把这篇文章中的一些关键点提炼出来,并改写简化了证明思路,方便理解。
首先,能量进入任何器件都会有这样几个结果:(1)被器件耗散;(2)被反射;(3)继续向前传输。由此可以写出下面的方程:
Pdissipated=Pincident−Preflected−PtransmittedP_{dissipated} = P_{incident} - P_{reflected} - P_{transmitted} Pdissipated=Pincident−Preflected−Ptransmitted
如果我们将各个部分对输入的能量PincidentP_{incident}Pincident做归一化,则有:
Pdissipated/Pincident=1−Preflected/Pincident−Ptransmitted/PincidentP_{dissipated}/ P_{incident} = 1 - P_{reflected} / P_{incident} - P_{transmitted} / P_{incident} Pdissipated/Pincident=1−Preflected/Pincident−Ptransmitted/Pincident
根据S参数的定义可知Preflected/PincidentP_{reflected} / P_{incident}Preflected/Pincident即为反射系数S11S_{11}S11,Ptransmitted/PincidentP_{transmitted} / P_{incident}Ptransmitted/Pincident 即为 S21S_{21}S21,因此,可以进一步写为:
Pdissipated/Pincident=1−∣S11∣2−∣S21∣2P_{dissipated}/ P_{incident} = 1 - |S_{11}|^2 - |S_{21}|^2 Pdissipated/Pincident=1−∣S11∣2−∣S21∣2
即:
Pdissipated=(1−∣S11∣2−∣S21∣2)×PincidentP_{dissipated} = (1 - |S_{11}|^2 - |S_{21}|^2 ) \times P_{incident} Pdissipated=(1−∣S11∣2−∣S21∣2)×Pincident
下一步精彩的来了,器件的噪声的产生其实刚好是上面电能耗散变成发热的逆过程,即发热的能量变成“电信号”的过程,而这样产生的“电信号”其实就是噪声PnoiseP_{noise}Pnoise,因此对比上式可得:
Pnoise(W/Hz)=(1−∣S11∣2−∣S21∣2)×kTP_{noise}(W/Hz) = (1 - |S_{11}|^2 - |S_{21}|^2 ) \times kT Pnoise(W/Hz)=(1−∣S11∣2−∣S21∣2)×kT
按照本文最开始介绍的噪声系数的公式,可得:
F=Si/NiSo/No=Si/NiGSi/(GNi+Na)=1+NaGNiF=\frac{S_i/N_i}{S_o/N_o}=\frac{S_i/N_i}{GS_i/(GN_i+N_a)} =1+\frac{N_a}{GN_i} F=So/NoSi/Ni=GSi/(GNi+Na)Si/Ni=1+GNiNa
NaN_aNa是器件自己产生的噪声,可用上面介绍的PnoiseP_{noise}Pnoise代表;在T0T_0T0温度下,NiN_iNi输入的噪声可以用kT0kT_0kT0,即我们常说的−174dBm/Hz-174dBm/Hz−174dBm/Hz;GGG就是增益,即∣S21∣2|S_{21}|^2∣S21∣2,全部带入上式则有:
F=1+NaGNi=1+(1−∣S11∣2−∣S21∣2)×kT∣S21∣2kT0F=1+\frac{N_a}{GN_i}=1+\frac{ (1 - |S_{11}|^2 - |S_{21}|^2 ) \times kT }{|S_{21}|^2kT_0} F=1+GNiNa=1+∣S21∣2kT0(1−∣S11∣2−∣S21∣2)×kT
因此在T0T_0T0(290K290K290K)温度下,上式中T=T0T=T_0T=T0,进一步简化:
F=1+NaGNi=1+(1−∣S11∣2−∣S21∣2)×kT0∣S21∣2kT0=1+1∣S21∣2−∣S11∣2∣S21∣2−1F=1+\frac{N_a}{GN_i}=1+\frac{ (1 - |S_{11}|^2 - |S_{21}|^2 ) \times kT_0 }{|S_{21}|^2kT_0}=1+\frac{1}{|S_{21}|^2}-\frac{|S_{11}|^2}{|S_{21}|^2}-1 F=1+GNiNa=1+∣S21∣2kT0(1−∣S11∣2−∣S21∣2)×kT0=1+∣S21∣21−∣S21∣2∣S11∣2−1
在50欧姆匹配的情况下,S11=0S_{11}=0S11=0,因此:
F=1∣S21∣2F=\frac{1}{|S_{21}|^2} F=∣S21∣21
∣S21∣2|S_{21}|^2∣S21∣2是器件的增益,其倒数就是插入损耗。以上就是简化版的无源器件的噪声系数=插入损耗的数学依据。其实从推导中我们也可以看出,这一说法并不严谨,因为实际上噪声系数和温度是密切相关的,在290K以上的温度,噪声系数大于插入损耗;在290K以下的温度,噪声系数小于插入损耗。
注:为了方便理解,本节推到做了简化,不如原文严谨,如需精准的数学推到请看原文。
在实际电路设计中如何仿真噪声系数呢,比如我想使用三极管来设计一个LNA,需要仿真其噪声系数,怎么做呢?最好的办法就是从厂家那里拿到该三极管的model,然后在仿真软件里加入该model,就可以仿真各种参数了。但是如果没有找到model,怎么办呢?用它的S参数文件能否仿真噪声系数吗?
为了回答这个问题,我们回顾下S参数文件的构成:
! 满洲里国峰电子科技,www.guofengdianzi.com
! vitual RF BJT
! VCE = 1.5 V, IC = 1.5 mA
! S-Parameters:
! f/GHz S11 S21 S12 S22
! MAG ANG MAG ANG MAG ANG MAG ANG
# GHz S MA R 500.100 0.1 -1.5 3 180 0.01 75 1 -5
上面是我们虚构了一个射频晶体管的S参数文件,具体的S参数文件格式的介绍,可参看之前的博客《s2p标准格式》https://blog.csdn.net/mzldxf/article/details/107623579,然而这样的文件是不能够用来仿真噪声系数的,它可以仿真S参数,比如S11,S21等等。要想仿真S参数,它还需要NFmin这样的参数。一个既可以仿真S参数又可以仿真NF的sp文件是这样的:
! 满洲里国峰电子科技,www.guofengdianzi.com
! vitual RF BJT
! VCE = 1.5 V, IC = 1.5 mA
! S-Parameters:
! f/GHz S11 S21 S12 S22
! MAG ANG MAG ANG MAG ANG MAG ANG
# GHz S MA R 500.100 0.1 -1.5 3 180 0.01 75 1 -5...
! f NFmin Gammaopt Rn/50
! GHz dB MAG ANG -0.100 0.3 0.9 30 0.39...
与前者不同的地方在于多了这几行(省略号代表省略的其他频率的信息)。
! f NFmin Gammaopt Rn/50
! GHz dB MAG ANG -0.100 0.3 0.9 30 0.39...
NFminNF_{min}NFmin就是该晶体管能够达到的最低的噪声,Γopt\Gamma_{opt}Γopt是为了达到这样的噪声,最佳的Γ\GammaΓ的位置,RnR_nRn描述匹配远离Γopt\Gamma_{opt}Γopt点导致噪声增加的特性,RnR_nRn越大,斜率越陡,越不利于LNA的设计,通常Rn/50R_n/50Rn/50在0.4附近,最终的噪声系数和这些参数的关系如下 [4]:
F=Fmin+4RnZ0(∣Γopt−Γs∣2∣1+Γopt∣2(1−∣Γs∣2))F=F_{min}+\frac{4R_n}{Z_0}(\frac{|\Gamma_{opt}-\Gamma_{s}|^2}{|1+\Gamma_{opt}|^2(1-|\Gamma_{s}|^2)}) F=Fmin+Z04Rn(∣1+Γopt∣2(1−∣Γs∣2)∣Γopt−Γs∣2)
其实在smith chart中,这样的公式就是一圈圈的噪声圆,比如我们再拿另外一组带有NFmin信息的S参数画在史密斯圆图上,就如下图所示:

至此,我们介绍了无源器件的噪声系数和插入损耗的关系,捎带着讲述了一下噪声圆的仿真,希望对朋友们有所帮助~
作者:潇洒的电磁波(兴趣:射频芯片设计、雷达系统、嵌入式。欢迎大家合作交流。)
微信:GuoFengDianZi
引用:
[1] F. Ellinger. Radio Frequency Integrated Circuits and Technologies
[2] Avago Technologies. AppCAD.
[3] https://www.microwaves101.com/encyclopedias/noise-figure-of-passives
[4] Agilent. Fundamentals of RF and Microwave Noise Figure Measurements